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  • UM超声波测厚仪

    UM超声波测厚仪一、产品简介UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,X射线检测设备通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01,超声波测厚仪具有最小厚度值。捕捉模式:可现在联系